Advances in Imaging and Electron Physics

Описание

Ключевое направление — изучение взаимодействия электронов с различными материалами и системами, что находит применение в областях микроскопии, нанотехнологий и материаловедения. Журнал охватывает такие методы, как электронная томография и изображение с помощью сканирующей туннельной микроскопии, позволяя авторам исследовать структурные и физические свойства материалов на наноуровне. Кроме того, рассматриваются задачи, связанные с развитием новых методов анализа и визуализации, а также улучшением существующих технологий. Издание будет полезно исследователям в области физики, материаловедения и нанотехнологий, интересующимся передовыми методами изображения и анализа.