Electronic Device Failure Analysis

Описание

Ключевое направление — анализ неудач электронных устройств, включая изучение причин отказов, методов диагностики и технологий обслуживания. Авторы сосредотачиваются на применении сканирующей электронно-микроскопической и рентгеновской дифракционной техник, а также на методах анализа материалов, что позволяет выявлять дефекты и оценивать надежность компонентов. Журнал охватывает вопросы, связанные с полупроводниковыми изделиями и интегральными схемами, а также исследованиями в области качества и надежности электронных систем. Материалы будут интересны инженерам и исследователям, работающим в сфере разработки и тестирования электронных устройств.